場發(fā)射電鏡SEM4000正式上線使用

          場發(fā)射電鏡SEM4000

近日，國儀量子場發(fā)射掃描電鏡（FESEM）SEM4000正式交付梧州三和新材料科技有限公司-新能源材料工程技術研究中心并投入使用。同時，該設備也進入三和新材科技共享設備序列，企業(yè)外人員可付費使用。

SEM4000可提供形貌觀測服務：（可實現(xiàn)金屬、陶瓷、半導體、聚合物、復合材料等幾乎所有固體材料的表面形貌、斷口形貌、界面形貌等顯微結構分析，搭載了X射線能譜儀（EDS），可以在觀察微區(qū)形貌的同時，分析材料的微區(qū)化學成分和結構，主要用途包括：

（1）形貌分析：觀察材料物質的表面微觀形貌；

（2）結構分析：觀察樣品的元素分布、顆粒尺寸等結構信息；

（3）斷口分析：通過分析斷口結構確定材料的斷裂性質；

（4）粒度分析：確定顆粒樣品的粒徑范圍及分布；

（5）元素含量分析：接入能譜（EDS）探測器后，能對樣品中指定微區(qū)范圍內(nèi)4Be-92U元素進行定性分析以及初步定量分析。

送樣要求：

（1）待檢測樣品為固體；

（2）送樣最大尺寸為直徑50mm，最大高度30mm；

（3）樣品不能有磁性；

（4）樣品導電性良好，或樣品可以做噴金處理。

測試聯(lián)系人

黃先生：0774-5819736

SEM4000性能特點

SEM4000是一款分析型熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡，配備了高亮度、長壽命的肖特基場發(fā)射電子槍。三級磁透鏡設計，束流最大可達200 nA，且連續(xù)可調(diào),在配備的EDS應用上具有明顯優(yōu)勢。支持低真空模式，可直接觀察導電性弱或不導電樣品。標配的光學導航模式，以及直觀的操作界面，可以迅速高效地幫助您完成分析。

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